GM328A Testeur de Transistor, Diode ESR Meter + générateur signaux carrés et PWM

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Testeur de transistors multifonctionnel pour la détection automatique des transistors NPN et PNP, canal N, canal P, MOSFET et JFET, diodes, diode double, thyristor, identification automatique du brochage du transistor. Il peut également  être utilisé pour la mesure de fréquence et le générateur des signaux PWM.

Description

Caractéristiques:

  • Type: Testeur assemblé
  • Affichage: 1.8inch 160 * 128 LCD
  • Tension d’entrée: DC 6.8V-12V
  • Courant de fonctionnement: environ 30mA, mesuré lors de l’entrée d’une tension continue de 7,5 V
  • Mesure de résistance: Max. 50 MΩ
  • Résolution de résistance: 0.01Ω
  • Mesure de capacité: 25pF ~ 100mF
  • Résolution de capacité: 1pF
  • Mesure d’inductance: 0.01mH ~ 20H
  • Taille du circuit imprimé: 7,5 x 6 cm / 2,95 x 2,36 pouces
  • Poids du produit: 50
  • Taille de l’emballage: env. 10 x 7 x 2 cm / 3,94 x 2,75 x 0,8 pouces
  • Poids du colis: 53 g

 

Fonctionnalités:
 
1. Le processeur utilise la puce DIP-28 ATMEAG328P hautes performances à puce unique. Avec siège IC.
2. L’unité d’affichage utilise un écran couleur de 160 x 128 pixels, le nombre total de caractères à l’écran est de 8 x 20, la profondeur de la couleur est de 16 bits et le symbole du composant d’affichage graphique.
3. Contrôle du commutateur de code rotatif, mesure à un bouton, arrêt automatique.
4. Alimenté par une batterie laminée 9V, il peut également être alimenté par un adaptateur secteur. Le courant est d’environ 30 mA et le courant est d’environ 20 nA après l’arrêt.
5. Détection automatique des transistors NPN et PNP, FET, diodes, diodes doubles, thyristors, thyristors, identification automatique de la distribution des broches de transistor ci-dessus.
6. Testez le facteur d’amplification du courant d’émetteur commun NPN et triode PNP, la tension de seuil base-émetteur, le courant de fuite collecteur-émetteur à l’arrêt.
7. Identification des transistors Darlington par la tension de seuil triode base-émetteur et le facteur d’amplification de courant élevé.
8. Détectez les diodes de puissance et les diodes de protection intégrées FET.
9. Testez la tension de seuil d’activation grille-source FET, la résistance d’activation drain-source, la capacité grille-source.
10. Il peut mesurer jusqu’à 2 résistances à la fois, ce qui permet également de mesurer les résistances ajustables des trois pieds. Si la résistance ajustable est ajustée au point final, une seule valeur de résistance peut être mesurée.
11. Pour les condensateurs supérieurs à 90nF, la résistance série équivalente (ESR) est mesurée simultanément. La résolution de la résistance série équivalente peut aller jusqu’à 0,01Ω.
12. Pour les condensateurs supérieurs à 5000 pF, le taux de chute de tension après la charge est également affiché. Cette valeur peut refléter le facteur de qualité (valeur Q) du condensateur.
13. Mesurez jusqu’à deux diodes à la fois, en montrant leur tension positive et négative.
14. La diode électroluminescente est également représentée par un symbole graphique de la diode et sa tension d’activation est beaucoup plus élevée que celle d’une diode normale.
15. Une diode Zener avec une tension de claquage inverse inférieure à 4,5 V peut également être détectée et affichée sous forme de symbole de double diode. Les pôles positifs et négatifs ont un symbole de diode avec une tension d’activation d’environ 700 mV et la tension d’activation correspondant à l’autre symbole de diode est une valeur régulée. Donc, ne mesurez pas simultanément une diode normale et une diode Zener.
16. Lors du test d’une seule diode, la capacité de jonction inverse de la jonction PN est testée simultanément. La capacité de jonction PN du transistor peut également être testée. A ce moment, seuls la base et l’émetteur du transistor, ou la base et le collecteur peuvent être placés en même temps.
17. Les condensateurs inférieurs à 25 pF peuvent également être testés. Ce type de test nécessite un condensateur de 30pF. Commencez par tester le condensateur 30pF. Ensuite, mesurez le condensateur à tester en parallèle et effectuez une nouvelle mesure. Soustrayez la valeur mesurée du condensateur 30pF.
18. Mesurez simultanément l’inductance pour des résistances allant jusqu’à 2100Ω, mesurant de 0,01 mH à 20H.
19. Le processus de test prend environ 2 secondes et les gros condensateurs et inductances prennent plus de temps.
20. La plage de mesure de la fréquence est comprise entre 1 Hz et 1 MHz ou plus. Lorsque la fréquence mesurée est inférieure à 25 kHz, la période peut être affichée avec une résolution de 0,001 MHz.
21. Mesure de tension continue jusqu’à 50V.
22. Signal de signal carré sur un canal de sortie, plusieurs options de fréquence sont disponibles, la fréquence de sortie la plus élevée est 2 MHz
23. Sortie sur un canal à fréquence fixe, signal d’impulsion de cycle de travail réglable (PWM), ajustement du cycle de
travail de 1% à 99%.
24. Fonction de test de capacité séparée, la méthode de test est une mesure continue. Pour les condensateurs 2uF-50mF, il peut être directement mesuré dans son circuit. (Le circuit sur lequel se trouve le condensateur mesuré doit être mis hors tension et le condensateur mesuré doit être complètement déchargé.)
25. Les thyristors et les thyristors ne peuvent que reconnaître leur brochage et doivent également tester le thyristor ou
le thyristor avec moins de courant de déclenchement que le testeur ne peut en fournir. Le testeur ne peut fournir que 6mA de courant de déclenchement.
26. Le décodage et le codage par télécommande infrarouge prennent en charge le format de codage des puces TC9012 et upD6121.

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